兔年伊始，我司新增日本espec HAST、PCT 高压加速寿命试验机，可满足芯片行业高加速老化测试需求，满足标准ICE60068-2-66、IEC60749-4/JEITAED-4701 、JESD22-A110E等半导体行业常用的测试要求，可执行饱和非饱和湿度、加压高温等一系列测试要求，欢迎新老客户咨询。
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作者：admin 浏览量：1039 来源：本站 时间：2023-01-31 10:35:52
兔年伊始，我司新增日本espec HAST、PCT 高压加速寿命试验机，可满足芯片行业高加速老化测试需求，满足标准ICE60068-2-66、IEC60749-4/JEITAED-4701 、JESD22-A110E等半导体行业常用的测试要求，可执行饱和非饱和湿度、加压高温等一系列测试要求，欢迎新老客户咨询。
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